模擬花鍵千分尺日本三豐mitutoyo授權 111-115 SPM

測量范圍（mm）：0～25

最小顯示量（mm）：0.01

兩個測量面都很薄，便于測量花鍵軸的溝槽直徑。

模擬花鍵千分尺日本三豐mitutoyo授權 111-115 SPM

從納米粒子到建筑物，“測量"是世界各地所有制造環境中的一項基本技術。三豐是一家精密測量儀器綜合制造商，擁有超過5,500種型號，是精密測量行業的當先企業。 我們最大的使命是通過解決精密測量相關問題，持續改進和創新精密測量技術，為客戶業務的發展以及全球工業和技術的進步做出貢獻。

為此，自成立以來，我們始終致力于提供解決方案，使我們的客戶能夠“測量"并創造超越“測量"的東西。 例如，我們開發最佳的檢查環境，通過應用我們自己的技術改進現場流程，并利用測量數據創建 “不可阻擋的工廠" ...... “測量"是制造的核心。 這就是為什么可能性是無限的， 我們的挑戰也將繼續。

三豐產品不懈追求作為各行各業基準的“測量"技術，隨著時代變化和技術革新的浪潮，向著更豐富、更高精度不斷進步。今后，三豐作為精密測量儀器和試驗、測量設備的當先企業，仍將不斷迎接新的挑戰，為用戶提供更多滿意的商品。

讓客戶始終滿意，不斷為客戶“提供最高品質的服務"是我們的使命。

代碼號

111-115

111-116

111-117

111-118

111-119

111-120

111-121

111-122

111-123

111-124

111-125

111-126

111-215

測量范圍（毫米）

0~25

25~50

50~75

75~100

100~125

125~150

150~175

175~200

200~225

225~250

250~275

275~300

0~25

最小顯示量(mm)

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

0.01

測量面尺寸（φmm）

3

3

3

3

3

3

3

3

3

3

3

3

2

最大允許誤差：J MPE (µm)

±3

±3

±3

±4

±4

±4

±5

±5

±5

±6

±6

±6

±3

平行度（微米）

2

2

2

3

3

3

3

四

四

四

四

五

2

平整度（微米）

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

0.3

外形尺寸